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Shanghai jiulichuan Trading Co., Ltd
Fabricant sur mesure

Produits principaux :

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Machine de test dynamique

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Vue d'ensemble

Itc57300 est une machine de test de paramètres dynamiques prestigieux tels que MOSFET, IGBT, Bipolar DEVICE, DIODE, etc., pour tester et analyser le temps de commutation résistif / sensible, les pertes de commutation, la charge de grille, la résistance équivalente de grille trr / qrr et d'autres tests. Il existe de nombreux clients dans l'industrie des semi - conducteurs.

Détails du produit

Résumé

Itc57300 système de test de paramètres dynamiquesL'hôte peut être couplé à différentes têtes de test pour tester la non - destructivité de dispositifs semi - conducteurs tels que mosft, IGBT, diodes et autres dispositifs bipolaires Bipolar (nécessitant une alimentation supplémentaire polarisée et des cartes personnalisées). L'hôte contient les testeurs et les logiciels nécessaires pour tester et analyser le temps de commutation résistif / sensible, les pertes de commutation,Charge de grille,Trr / QrrEt autres, etc.test- Oui.

Les têtes de test individuelles, bien que de conception différente, sont faciles et rapides à placer sur l'hôte. Bien que chaque tête de test soit conçue pour un test paramétrique, la carte de personnalité associée peut réassembler la tête de test pour correspondre à différentes catégories de dispositifs, de modèles d'emballage et de circuits de dispositifs, etc.

fonction

·Tension d'essai: max1200V Vdc, 200A (Test de court - circuitISCMax: 1000A)

·Mesure du temps: Min1ns

·Surveillance des limites de courant de fuite

Têtes de test existantes

ITC57210 -Des dispositifs de puissance MOSFETs,PEt test de temps de commutation de canal ntêteBeautéMarque militaire Mil - STD - 750, méthode 3472.

ITC57220 -Dispositifs de puissance MOSFETsEt diodesRécupération inverséeTrr / QrrTête d'essai,BeautéMarque militaire Mil - STD - 750, méthode 3473.

ITC57230 -Dispositifs de puissance MOSFETsTête de test de charge de grille,BeautéMarque militaire Mil - STD - 750, méthode 3471.

JeTC57240 - IGBT Tête de test de temps de commutation de charge sensible,BeautéMarque militaire Mil - STD - 750, méthode 3477.

ITC57250 -court-circuitcourant électriqueTête de test de résistance,BeautéMarque militaire Mil - STD - 750, méthode 3479.

ITC57260 -Tête de test de résistance équivalente à capacité de jonction / grille,norme Norme JEDEC JESD24-11